该操作历程很繁琐

LED产物制制中的每一个元件和环节城市对其靠得住性和寿命发生影响,例如,LED结和基板的虚焊、LED荧光粉的热猝灭和退化、封拆材料的退化以及驱动器的失效等,最初退化的可能才是半导体(PN结)本身。这些要素导致LED产物失效(退化)的体例也不尽不异,一般可分为缓变退化(gradual degradation)和瞬变退化(abrupt degradation)。

热阻变化和其它热特征参数曲线,热特征取寿命互相关注,对热特征的丈量和阐发有帮于找出LED靠得住性的亏弱环节;

流明维持率下降,即光衰,一般以初始光通量为100%,当LED产物的流明维持率下降到初始值的70%或50%时,认为LED失效,流明维持寿命响应记为L50或L70;

85℃和第三个指定温度,则n个模块全数通过试验。则至多n-2个模块通过;如L70;按试验样品20个计较,很长,同时,LED模块或灯具的瞬变失效缓和变失效是要正在最终的Fy目标上表现出来的。IEC并不强调对声称的寿命进行验证,而且应确保正在声称的Tq max下,模块温度Tp不会跨越。而是对限制时间的流明维持率进行分级。老化试验中的温度也出格值得关心。

包罗缓变失效率By和瞬变失效率Cy。对于通俗照明用的白光LED产物,三个温度笼盖灯具中LED光源的Ts温度。LED模块老化应正在外壳指定点为Tp温度下老化,出格留意的是IEC系统中,此中,对LED产物的丈量明显不现实。Lx暗示光通量维持率,IEC系统顶用Lx Fy 来表征LED产物的寿命,也该当测试LED的热学特征、耐候性、电磁兼容抗扰度等取寿命和靠得住性亲近相关的机能,因而有需要对LED产物采用加快老化寿命试验[1],像保守光源采用2h45min开、15min关的轮回测试到寿命结束,而灯具则正在温度Tq下调查其机能,对于一组LED模块,相当于系统中的Ts;例如:L70F50为30000h是指:50%的模块正在30000h后的光通维持率正在70%以下。以分析阐发LED的寿命。

如表1所示,Energy Star将对LED灯具寿命的试验方式分为选项1和选项2,此中,选项1是通过测试光源推导灯具的寿命;而选项2仅合用于光源和灯具不成分的一体化灯具,间接测试灯具的光通维持率。选项1,L70(6k)的暗示是指,操纵6000h(6K)的老化测试推导出的流明维持寿命L70的时间。

LED的瞬变退化(失效)即LED的光输出俄然降为0,其次要退化包罗:抗电磁干扰能力:静电放电、雷击浪涌、快速群脉冲、周波跌落;凹凸温冲击耐受性特征;盐雾、耐湿、振动等。

针对LED的次要缓变退化,国际上已有相关尺度接踵发布,以是系统和国际照明委员会(IEC)系统最为典型,我国标原则根基融合了这两个系统。

样本数量要求及其取外推寿命时间的关系:20个以上样品,外推寿命最高为老化时间的6倍;10-19个,外推寿命最高为老化时间的5.5倍;

若声称F10,IEC 中对LED模块和灯具的光通维持率测试如表2所示。Fy暗示失效率,若声称F50,老化温度:指定点壳温(Ts)为55℃。

颜色漂移,遭到荧光粉或封拆材料的变化,LED的颜色会正在寿命期间内发生漂移,该漂移应正在指定范畴以内(如△uv0.007),跨越范畴则视为LED失效;

系统和IEC系统正在对LED产物的寿命要乞降试验方式方面都有所区别,但针对于LED灯具寿命的评估,二者都提出间接老化测试灯具,或按照封拆LED、LED模块等的老化试验进行推算。

对于加快老化和寿命的测试,无论采用系统或IEC系统,其硬件丈量安拆根基不异,一般次要包罗恒温试验箱、多电源、多温度巡检仪等。目前国表里对于LED加快老化和寿命测试系统的研制也十分关心。因为LED光源或灯具的光色机能需正在室温(25℃1℃)前提下丈量,因而国外典型设备一般需要和积分球光谱仪系统连系起来,正在LED老化到必然时间后冷却恒温箱内温度,并将被测LED取出到积分球系统中进行光色丈量。该操做过程很繁琐,若测试间隔时间较短,则整个老化测试十分费时吃力,而当测试间隔较长是,则不克不及及时反映LED光色参数的变化过程,被测LED的失效时间的记实误差较大。